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Fib / Tem Ga Focused Ion Beam Instrument And Transmission Electron Microscope

プロポーザル要請（Request For Proposals）

一般情報
   6月 19, 2025
   ドイツ語
   その他
   発行されました: 6月 19, 2025

原本

FIB / TEM Ga Focused Ion Beam Instrument and Transmission Electron MicroscopePlace of contract performance8600 Dübendorf, ZH, Switzerland
Empa zentraler Einkauf
Invitation to tender19.06.2025
#18784
Invitation to tender
Open procedure
Supply of goods#18784Invitation to tenderOpen procedureSupply of goodsFIB / TEM Ga Focused Ion Beam Instrument and Transmission Electron...
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